I научно–практическая психолого-педагогическая конференция к 200-летию К.Д.Ушинского

I научно–практическая психолого-педагогическая конференция к 200-летию К.Д.Ушинского

2 марта 2023 года исполняется 200 лет со дня рождения русского ученого, писателя и педагога Константина Дмитриевича Ушинского. К.Д. Ушинский мечтал о том времени, когда педагог будет для ребенка не только наставником, учителем, но и психологом. Юбилею К.Д. Ушинского была посвящена I научно–практическая психолого-педагогическая конференция, которая прошла 20 февраля в Пензенском музыкальном колледже им. А.А. Архангельского.

Не правда ли, слово «конференция» у многих ассоциируется с чем – то довольно скучным: длинные монотонные доклады, сложно воспринимаемая информация. Поэтому, выполняя наказ «отца русских учителей», студенты 2 курса под руководством преподавателя психологии и педагогики Н.В. Заломновой решили представить на конференцию реальные исследования по выбранным ими актуальным психолого - педагогическим темам:

Проблема зависимого поведения современной молодежи и его профилактика. Согласно полученным данным, 72 % учащихся на данный момент имеют склонность к зависимому поведению разной степени выраженности и, прежде всего, это «телефонная» зависимость.

Перфекционизм как проблема современной молодежи. Стремление к идеалу во всём может быть разрушительным для человека, и у большинства опрошенных выявлены черты перфекционизма.

Психологические проблемы взаимоотношений подростков со взрослыми. В ходе исследования выявлено, что камнем преткновения в отношениях поколений на сегодняшний день является отношение к событиям в стране и в мире.

Проблема адаптации первокурсников к учебному процессу. Исследование показало, что достаточно легко для большинства первокурсников (81%) проходит адаптация к новой социальной среде, сложнее адаптироваться к учебному процессу, новым предметам и новым требованиям.

156
Нет комментариев. Ваш будет первым!
Используя этот сайт, вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее